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影响奥林巴斯光谱仪射线強度的因素有哪些?

 发布时间:2022-03-16 点击量:169
  对奥林巴斯光谱仪射线強度有影响的因素是什么呢?奥林巴斯光谱仪的定量分析是以荧光x光线的強度为根据的,影响光谱仪射线強度的因素会影响分析的精确度,以下是主要两大影响因素:
 
  一、基体效应:
 
  基体效应包含吸收效应及加强效应。
 
  吸收效应包含基材对入射x光线的吸收及对荧光x光线的吸收。由于用射线激发试品时,不只是作用于试品表层并且能穿透相应的厚度进入试品里面,并且试品里面分析元素形成的荧光x光线,也必须穿过相应厚度的试品才可以射出。在穿透过程中,这二种x光线都会因基材元素的吸收而使射线強度减弱,射线减弱会影响对分析元素的激发效率。
 
  假如入射x光线使基材元素激发所形成的荧光x光线的波长略短于分析元素的吸收边,它会使分析元素形成二次荧光x光线,进而使分析元素的荧光x光线強度加强,这就是基材的加强效应。
 
  假如吸收效应占主导作用,则分析結果稍低,假如加强效应占主导作用,则分析結果较高。
 
  二、不均匀效应:
 
  不均匀效应就是指试品颗粒大小不均匀及试品表层光洁度对荧光x光线強度的影响。对粉末试品,大颗粒吸收效应强,小颗粒吸收效应弱,因而,要求颗粒粒度尽可能小一些,以减少对x光线的吸收。测短波x光线时,要求粒度在250目以上,测量波长超过0.2nm的长波x射线时,则粒度要求在400目以上。
 
  固体块状试样一定要磨平拋光,粉末试样要压紧并使表层平滑。粗糙表层会使荧光x光线的強度明显下降。测量短波x光线时,光洁度在1005m左右,测量长波x光线时,光洁度为20-50Mm。

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