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介绍荧光光谱仪测量的基本原理
点击次数:228 发布时间:2018-11-13
   介绍荧光光谱仪测量的基本原理
  荧光光谱仪是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术,已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域,可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。本文就荧光光谱仪的工作原理及其应用做简单阐述。
  荧光光谱仪的基本原理:
  当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,对应的形成一个空穴,使原子处于激发状态。此后在很短时间内,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,以降低原子能级。当较外层的电子跃迁(符合量子力学理论)至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出,便产生了荧光。荧光的能量与入射的能量无关,它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定,故称之为该元素的特征射线,也称荧光x射线或x荧光。
  荧光光谱法就是由x射线光管发生的一次x射线激发样品,试样可以被激发出各种波长的特征x射线荧光,需要把混合的x射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的x射线的强度,以进行定性和定量分析的方法。该方法是一种非破坏性的仪器
  荧光光谱仪分析方法,常用的有能量色散型和波长色散型两种类型。广泛应用于钢铁、铁矿石、炉渣、石灰石、萤石、耐火材料、地质等行业的多种元素的测定。
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