X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时，该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象，物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生*的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此，X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
X射线衍射仪(XRD)是通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
X射线衍射仪使用注意事项：
(1)固体样品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。
(2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。
(3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变)，测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。
(4)粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。
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